新闻内容
量子点允许垂直入射成像
OFWEEK.com  2008-10-29 09:46  来源:光电新闻网  

    作者:John Wallace 译者:蒙红云

    量子井红外光电探测器(QWIP)用来作为焦平面阵列(FPA)相机元件,FPA相机用来获取中波和长波红外图像。除了在军事方面的价值,基于量子QWIP的FPA在微光摄像电视中也有应用价值。但是,由于垂直入射的光不能进行光学转换,因此QWIP几乎不吸收垂直入射的光。可以利用光栅或者其他方法避免这个问题,但是附加元件增加了成本。


    一个克服QWIP缺点的可选方法就是量子点红外探测器(QDIP),这种探测器可以吸收垂直入射的光。目前,由西北大学(Evanston,IL)、 空气动力研究实验室(Wright-Patterson AFB,OH)和导弹防御处(Washington,D.C.)等三个部门组成的小组已经开始开发和试验第一代QDIP FPA。


    利用低压金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法,他们开发出了一块256X256像素的砷化镓铟(InGaAs)量子点FPA。这块FPA 以磷化镓铟(InGaP)为基片,像素材料是用砷化镓(GaAs)。采用倒装芯片技术,裸片与读出芯片上装在一起,直到它们之间的空隙被填满,GaAs衬底的厚度只有30μm 。


    西北大学科学家Manijeh Razeghi说:“FPA开发过程的最大困难就是如何实现低的等噪声温度差分(NEFT,或者NEDT),这是红外PFA的最重要参数。QDIP FPA的开发是一个相当艰难的过程。它涉及到许多技术,比如MOCVD外延技术、照相平版技术、等离子体蚀刻术、倒装芯片技术等等。对QDIP FPA的开发来说,要实现比较小的NEDT,高密度和高均匀性自组装量子点是关键。”

 

    在 300K环境温度下,以53Hz的帧速率,利用一个f/2.3成像镜头对QDIP FPA进行了测试。通过处理90%的像素,得到了很好的图像,如图所示。光响应的峰值在4.7μm 波长位置,在5.2μm 波长处截止。理论估计NEDT值是87mK,但是实际结果是509mK,这种差异可能是像素不均匀引起的。10%没有处理的像素从非常薄(2μm )的铟肿块(在覆晶接合时用到)中显现出来,对读出单元导致一些非常弱的连接。当偏压为-1.6V时,注入电流效率接近90%。


    除了由量子点3-D幽禁效应产生的垂直入射作用的优点之外,QDIP与QWIP相比,在原型方面的优点也是相当明显的。据Razeghi介绍,性能相当的QWIP只能在低于67K环境温度下运行,而即使在120K温度下,QDIP FPA原型成像的效果也相当好。


    Razeghi介绍说:“目前,大部分红外FPA是利用QWIP或者碲镉汞(MCT)内置光电探测器。由于MCT材料的原因,很难得到高均匀 MCT探测器阵列,所以基于MCT的FPA价格昂贵,成品率低。”Razeghi还指出,除了QWIP的垂直入射问题,QWIP和MCT FPA都不适合在高温环境下运行。她补充到:“通过进一步研究开发,期望在比较高的温度条件下其性能可以与MCT或者QWIP FPA相当,或者比QDIP FPA更好!”。

 

(编辑:小曾)

相关新闻
发表评论
看不清,点击换一张
热点新闻
OFWeek中国光电门户网站