NI半导体

对于模拟、混合信号和RF测试,传统ATE的测试覆盖
范围往往无法跟上半导体技术需求变化的脚步。

NI​方法​的​优势
  • 降低​测试​成本

    一个​适用​于​从​特性​分析​到​生产​的​平台​方法,​为​RF​和​混合​信号​测试​提供​了​更​低成本​的​高性能​测试​解决​方案。

  • 更​快速​的​测试

    NI​半导体​测试​客户​反映:​在​满足​测量​和​性能​要求​的​同时,​测试​时间​缩短​了​10​倍。

  • 更​精准​的​测量

    NI​产品​提供​了​业界​领先​的​测量​精度,​并​通过​NI​校准​和​系统​服务​来​确保​精度​的​长期​有效性。

应用
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