NI半导体测试平台

许多半导体的检验与特性实验室,都依赖机架堆叠仪器搭配大量的手动测试程序,而生产测试单位则使用完整、高效通的昂贵自动化测试设备ATE来完成。从实验室到产线所采用的测试方法不同,很难能够进行很好的关联(correlation),使得整体的测试成本难以降低。因此最佳的系统优化应透过通用的统一的测试平台,可因应设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门可轻松共用资料、以现有的半导体技术搭配最新功能,进而降低成本。

NI半导体测试系统STS

使用半导体测试系统降低测试成本

半导体测试系统(STS)系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统,适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NPX平台、 Teststand测试管理软件以及 Labview图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计,把产品的所有关键测试资源整合在一起,这些测试资源包括系统控制器、直流交流电源、射频仪器、待测设备接口以及分拣仪器和探头接口。这样的紧凑型设计减小了额外的占地空间,降低了功耗,减轻了传统AE测试员的维护负担,从而节约了测试或本。此外,STS采用开放的、模块化的设计,使您可以利用最新的工业标准的PX模块,获得更多的仪器资源和更强大的计算能力。

强大的软件工具用来开发、调试和部署测试程序

STS包括Teststand、Labview和内置的系统工具,其中Teststand新增了用于半导体测试管理的新特性,Labview可用于开发代码模块,内置的系统工具则可用于系统校准、诊断、资源监测和控制。

Teststand

STS的核心是 Teststand即时可用测试管理软件,该软件用来帮助您快速开发和部署测试程序。借助 Teststand,您可以使用多种编程语言编写的测试代码模块搭建测试序列。用户可以轻松指定执行流、生成测试报告、数据库录入以及连接其他公司系统。关键特性包括:

Labview

凭借一种直观的图形化开发环境,Labview简化了硬件集成,通过降低传统代码设计的复杂度缩短了开发时间。借助可立三即运行的范例、内置模板和项目范例以及即时可用的工程P核,Eabw帮助您根据特定半导体设备测试计划,快速开发代码模块。

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第一轮9月20日,抽取二等奖: 3名,50元京东购物卡;以及幸运奖:5名,小电风扇

第二轮10月15日,抽取三等奖: 20名,20元话费充值,以及一等奖: 1名,头戴式蓝牙耳机。

活动说明

1. 正确回答所有问题并填写个人资料,即可获得抽奖资格;
2. 每个参与者最多获取一个奖项;第一轮未获奖者,可继续参与第二轮抽奖;
3. 如因故无法提供原定奖品,主办发将提供其他相同价值产品,奖品不能兑换现金;
4. 所有奖品将统一在活动结束后的14个工作日内寄出;
5. 如因注册报名信息不全,导致在活动结束前无法与您取得联系,将视为自动放弃领奖机会(本活动最终解释权归ofweek所有);
温馨提示:参与3月30日-5月5日第一期和6月1日-7月15日第二期有奖问答的用户,谢绝参加参与本期有奖问答。

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