当大数据、移动互联成为时代热点,没有什么能够阻挡它们为电子行业带来的光芒与期望! 新时代的测试测量所承载的不仅是硬件、软件与服务,更应围绕热门应用与方向,提供实用而高效的完整解决方案。
跨入2016年,泰克面对客户的诸多测试需求准备了一系列热门应用方案,话题跨度从产业到科研,应用方案从旗舰到主流、从时域到频域、从全新产品到技术升级,泰克将在全国超过10地与您相遇。约吗?
演讲时间 | 演讲主题 |
09:00-09:30 | 签到 |
09:30-10:00 | 泰克公司近期的技术进展和新方案介绍 |
10:00-11:45 | 高速串行信号及嵌入式系统先进测试技术 |
11:45-13:00 | 午餐 |
13:00-14:00 | 最新半导体器件测试技术与 Keithley解决方案分享 |
14:00-14:15 | 茶歇 |
14:15-15:15 | 在大数据时代下数据通信的技术演进及测试方案 |
15:15-16:15 | 高速系统总线接口及芯片的调试方案 |
16:15-16:30 | 幸运抽奖 |
二等奖
迷你音响
一等奖
飞利浦加湿器
三等奖
蓝牙耳机
备注:最终日程以现场发布为准。现场参会人员均有机会获得精美礼品,携带名片即可参与抽奖,精美礼品等您来拿!
光通讯/通信网络
电子工程
半导体/圆晶
最近一年是泰克公司的丰收年:从旗舰到主流、从时域到频域、从全新产品到技术升级,有一大批的新产品、新方案问世。本节将简要介绍这些新产品和方案产生的背景、特点和应用目标。
随着电子产品的速度越来越快、复杂程度越来越高,它们设计、检验和调试起来正越来越复杂。设计人员必须全面检验设计,保证产品可靠运行。在发生问题时,设计人员必需迅速了解根本原因,以便解决问题。本讲座将为大家介绍如何使用先进的测试仪器及相应的软件套件简化测试高速串行信号(USB/DDR/LVDS/以太网等),如何提高FPGA,SOC系统测试效率。
4200作为可扩展的半导体参数测试设备,涵盖了传统的器件基本特性测试,晶圆测试及参数分析,可靠性测试(WLR),及未来新材料功率器件的几乎所有需求。本节将会从小信号测试的理论入手,总结测试过程中的常见问题及测试技巧,并给出对应的解决方案。
从远距离100GBASE-LR4到短距离100GBASE-SR4系统,以及新兴的400GBASE-LR8,众多独特的需求不断指引测试测量行业的发展方向。本课程将重点介绍最高速率光通信局域网及光电互联研发,包括与IEEE 802.3bm (SR4)的时机及IEEE 802.3bs 400G (LR8)任务小组工作有关的信息。
探讨如何通过泰克科技的产品方案进行RF/Power/Analog/ digital/Optical的IC的输入输出特性进行功能和性能的调试验证,包括通过数字,模拟,射频调制激励信号的产生,抖动和噪声等压力的注入,从而对芯片的输入容限进行验证,以及IC的射频,模拟,数字信号的输出质量模拟特性验证,数字解调,协议解码和误码分析;时域,频域和调制域的多域分析,以及数字,模拟和射频的多方观测。另外还会涉及各种低速和高速芯片接口标准的一致性测试验证以及芯片内部短路断路虚焊时的非破坏性失效分析方法和案例。
泰克公司总部位于美国俄勒冈州毕佛顿市,致力提供创新、精确、操作简便的测试、测量和监测解决方案,解决各种问题,释放洞察力,推动创新能力。70多年来,泰克一直走在数字时代前沿。欢迎加入我们的创新之旅,敬请登录:cn.tek.com。
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