演讲内容介绍

• 09:30-10:00

  泰克公司近期的技术进展和新方案介绍

  最近一年是泰克公司的丰收年：从旗舰到主流、从时域到频域、从全新产品到技术升级，有一大批的新产品、新方案问世。本节将简要介绍这些新产品和方案产生的背景、特点和应用目标。

• 10:00-11:45

  高速串行信号及嵌入式系统先进测试技术

  随着电子产品的速度越来越快、复杂程度越来越高，它们设计、检验和调试起来正越来越复杂。设计人员必须全面检验设计，保证产品可靠运行。在发生问题时，设计人员必需迅速了解根本原因，以便解决问题。本讲座将为大家介绍如何使用先进的测试仪器及相应的软件套件简化测试高速串行信号（USB/DDR/LVDS/以太网等），如何提高FPGA，SOC系统测试效率。

• 13:00-14:00

  最新半导体器件测试技术与 Keithley解决方案分享

  4200作为可扩展的半导体参数测试设备，涵盖了传统的器件基本特性测试，晶圆测试及参数分析，可靠性测试（WLR），及未来新材料功率器件的几乎所有需求。本节将会从小信号测试的理论入手，总结测试过程中的常见问题及测试技巧，并给出对应的解决方案。

• 14:15-15:15

  在大数据时代下数据通信的技术演进及测试方案

  从远距离100GBASE-LR4到短距离100GBASE-SR4系统，以及新兴的400GBASE-LR8，众多独特的需求不断指引测试测量行业的发展方向。本课程将重点介绍最高速率光通信局域网及光电互联研发，包括与IEEE 802.3bm (SR4)的时机及IEEE 802.3bs 400G (LR8)任务小组工作有关的信息。

• 15:15-16:15

  高速系统总线接口及芯片的调试方案

  
  探讨如何通过泰克科技的产品方案进行RF/Power/Analog/ digital/Optical的IC的输入输出特性进行功能和性能的调试验证，包括通过数字，模拟，射频调制激励信号的产生，抖动和噪声等压力的注入，从而对芯片的输入容限进行验证，以及IC的射频，模拟，数字信号的输出质量模拟特性验证，数字解调，协议解码和误码分析；时域，频域和调制域的多域分析，以及数字，模拟和射频的多方观测。另外还会涉及各种低速和高速芯片接口标准的一致性测试验证以及芯片内部短路断路虚焊时的非破坏性失效分析方法和案例。