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单晶硅各向异性腐蚀的微观动态模拟

[摘要]  根据单晶硅各向异性腐蚀的特点,以晶格内部原子键密度为主要因素,温度、腐蚀液浓度等环境因素为校正因子,建立了一个新颖的硅各向异性腐蚀的计算机模拟模型。
下载说明: 文件大小:0.36MB | 文件格式:PDF | 上网时间:2009-03-25
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